Fitur produk
PECS dari Gatan ™) II adalah perangkat pemolesan dan pelapis ion argon berkas lebar tipe desktop. Untuk sampel yang sama, pemolesan dan pelapisan dapat dilakukan dalam lingkungan vakum yang sama.

Fitur teknis utama produk:
Mesin pelapis presisi (PECS) ™) II， Menggunakan dua balok ion argon balok lebar untuk mempoles permukaan sampel, menghilangkan lapisan kerugian, sehingga mendapatkan sampel berkualitas tinggi, untuk pencitraan, EDS, EBSD, CL, EBIC atau analisis lainnya pada SEM, kacamata optik atau pemindaian probe elektronik, selain itu, kedua senjata ion ini diselaraskan dengan sputtering target, dapat digunakan untuk melakukan pemrosesan pelepasan film logam konduktif pada sampel untuk mencegah efek muatan pada sampel dalam elektroskop.
Instrumen ini dirancang untuk mengolah sampel yang dipoles tanpa merusak vakum dan tidak mengekspos permukaan segar sampel ke atmosfer. Pengambilan sampel dilakukan melalui alat sampel yang dirancang khusus di ruang pertukaran vakum.
Dua pistol ion Penning kecil dengan rentang tegangan yang lebih besar memberikan efek pemolesan yang cepat dan lembut. Balok ion rendah hingga 100eV memberikan efek pemolesan yang lebih lembut untuk pemolesan sampel. Elektroda fokus energi rendah memungkinkan diameter balok ion tetap konsisten di hampir seluruh kisaran tegangan akselerasi. Setiap senjata ion dapat diarahkan secara akurat dan independen. Selama operasi instrumen, sudut senjata ion dapat disesuaikan. Aliran udara senjata ion dapat disesuaikan secara manual atau otomatis di layar sentuh untuk mengoptimalkan arus kerja senjata ion.
PECS II menggunakan metode pendinginan nitrogen cair. Sampel dapat dilindungi secara efektif, menghindari kerusakan panas sinar ion, menghilangkan kemungkinan ilusi.
Komputer layar sentuh warna 10 inci terintegrasi memberikan kontrol penuh atas semua parameter operasi sistem PECS II. Antarmuka ini dapat mengatur semua parameter dan mampu memantau proses pemolesan. Semua parameter operasi juga dapat disimpan sebagai standar, dan standar panggilan dapat mendapatkan pengulangan eksperimen presisi tinggi.
Pompa molekul turbo dengan pompa membran dua tingkat menjamin lingkungan yang sangat bersih. Pertukaran sampel yang cepat (< 1 menit) dapat dilakukan dengan alat penghapusan sampel Gatan, yang memastikan bahwa ruang pengolahan selalu berada dalam keadaan vakum tinggi selama proses penggantian sampel.

Keterangan gambar: (A) PECSII dipoles permukaan sampel elektron sekunder, menunjukkan grain kembar tinggi (B) PECSII dipoles zirconium paduan Chrysanthemum (C) EBSD Euler sudut diagram (D) IPFZ permukaan berjuang. Foto ini disediakan oleh Profesor Angus Wilkin-son dari Oxford Materials School dan Dr Hamidreza Abdolvand. Data dikumpulkan pada elektroskop pemindaian Zeiss Merlin Compact yang dilengkapi dengan sistem EBSD BrukerQuantax.